【MIM指南書（増補・セルフ）第５章 MIM不良24種の原因と対策
下記内容を手書きで追加願います。
P158 原因３として「フィードストックの不均質性（poor homogeneity） 粒子間距離のバラツキ」
P158 対策７として「混錬条件（時間、温度、回転数）の見直し。再混錬。」
P161 対策6として「MKS処理（不二製作所）を行い離型抵抗を減らす。」
P163 原因４として「射出圧により型が変形しPL部に隙間が発生した。」
P163 対策５として「サポートピラーを中心部に配置する。」
P165 現象 英語訳として 「joint line」を追記
P170 原因１の誤記訂正 誤：量がい 正：量が多い
P170 原因４として「焼結中のスランプ。例：SUS630の焼結では、1200℃をピークに強度が下がる。」
P170 対策６として「最終焼結温度の保持時間を短くする。」
P174 対策９として「Ar雰囲気分圧焼結の減圧を下げる、例えば５torr（666Pa）、ただしCrなどの蒸発に注意すること（P138）」